강우헌

스패어 메모리를 이용한 최소 면적의 BIRA 알고리즘

강성호, 조기원, 강우헌, 2013 .

3D IC를 위한 스캔 셀 재배열을 이용한 저전력 테스트 방법

이용, 강성호, 서성열, 2015 .