文
论文分享
演练场
杂货铺
论文推荐
字
编辑器下载
登录
注册
D. Lin
发表
(Invited) First-Principles Studies of the Defect Formation in III-V FETs Grown by Fin Replacement Method
Eddy Simoen, Niamh Waldron, Geoffrey Pourtois, 2014 .