M. Siltanen
发表
A technique to assess the reliability of the second-order susceptibility determination of thin films
M. Kauranen,
M. Siltanen,
2006
.
Lauri Halonen,
Juho Uotila,
Sauli Sinisalo,
2013,
Optics express.
Lauri Halonen,
Jari Peltola,
Mikael Siltanen,
2011,
Applied optics.
M. Vainio,
L. Halonen,
M. Siltanen,
2010
.
M. Vainio,
L. Halonen,
M. Siltanen,
2010
.
Stefano Cattaneo,
Martti Kauranen,
Helge Lemmetyinen,
2004,
The Journal of chemical physics.
M. Vainio,
L. Halonen,
M. Siltanen,
2010,
CPEM 2010.
M. Kauranen,
M. Siltanen,
S. Cattaneo,
2006,
2006 Conference on Lasers and Electro-Optics and 2006 Quantum Electronics and Laser Science Conference.
M. Kauranen,
M. Siltanen,
S. Cattaneo,
2005,
Optics express.
M. Vainio,
L. Halonen,
M. Siltanen,
2013,
The Journal of chemical physics.
M. Räsänen,
L. Khriachtchev,
L. Halonen,
2011
.
G Genty,
M. Kuittinen,
P. Vahimaa,
2010,
Optics express.
M. Siltanen,
A. Zolotukhin,
S. Pandian,
2016
.
M. Kuittinen,
P. Vahimaa,
M. Kauranen,
2007
.
P. Karvinen,
M. Kauranen,
M. Kuittinen,
2010,
36th European Conference and Exhibition on Optical Communication.
Lauri Halonen,
Mikael Siltanen,
Markku Vainio,
2010,
Optics express.
M. Vainio,
L. Halonen,
M. Siltanen,
2012
.
P. Ihalainen,
M. Kauranen,
J. Peltonen,
2008,
The journal of physical chemistry. B.