S. Krönert

Tiefen- und Längennormale aus Silizium (Depth and Lateral Standards Made of Silicon)

Uwe Brand, Joachim Frühauf, S. Krönert, 2001 .

Wet etching of silicon gratings with triangular profiles

Joachim Frühauf, J. Frühauf, S. Krönert, 2005 .