R.J.J. Zijlstra
发表
R. Zijlstra,
F. Hofman,
R.J.J. Zijlstra,
1988
.
F. Hofman,
R.J.J. Zijlstra,
1989
.
Gijs Bosman,
A. D. van Rheenen,
A. D. Rheenen,
1980
.
Low frequency noise measurements as a tool to analyze deep-level impurities in semiconductor devices
Gijs Bosman,
A. D. van Rheenen,
A. D. Rheenen,
1987
.