박은화

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반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

김동욱, 최태용, 김상국, 1995 .

Image sensor for generating a three dimensional image

박은화, 강희민, 2009 .

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성

김동욱, 최태용, 김상국, 1995 .

경계주사 환경에서 Built-In Self-Test 구현을 위한 Built-In Logic Block Observation 설계 ( A Design Of Built-in Logic Block Observer for Realization of Built-In Self-Test in Boundary-Scan Environment )

김동욱, 최태용, 김상국, 1995 .

Registration and authentification system of distribution type using bio data

김형수, 박은화, 2016 .

IEEE 1149.1 환경에서의 BIST 최적화를 위한 TAP-Controller의 설계 ( A Design of IEEE 1149.1 TAP-Controller for Optimal BIST Realization )

김동욱, 김정식, 김상국, 1994 .

2015개정 환경 교육과정의 개정 방향과 주요 내용

안유민, 이재영, 서은정, 2016 .

IEEE 1149.1 환경에서의 BIST 최적화를 위한 TAP-Controller의 설계

김동욱, 김정식, 김상국, 1994 .

경계주사 환경에서의 Built-In Self-Test 구현을 위한 Built-In Logic Block Observor 설계

김동욱, 최태용, 김상국, 1995 .

반도체 집적회로 제조공정과 설계에 기초한 고장목록 생성 ( Fault List Generation on the basis of Fabrication and Design in Semiconductor Integrated Circuits )

김동욱, 최태용, 김상국, 1995 .

Boundary-Scan 환경에서의 LFSR를 이용한 BIST 실현 ( BIST Implementation using LFSR in Boundary-Scan Environments )

김동욱, 김정식, 김상국, 1994 .

접촉즉흥(Contact Improvisation) - 그 실체로의 접근

박은화, 2005 .