N. Shibata

发表

M. Koike, Tomohiko Mori, N. Shibata, 1996 .

H. Amano, M. Meneghini, G. Meneghesso, 2019, Microelectronics Reliability.

T. Kozawa, M. Koike, Tomohiko Mori, 1996 .

T. Uemura, N. Shibata, H. Yamaguchi, 2003 .