D. Rall
发表
C. Lin,
D. Rall,
F. A. Sharpton,
1988
.
R. E. Murphy,
C. Lin,
Sunggi Chung,
1987
.
M. Siegel,
H. Hübers,
N. Gippius,
2010
.
Influence of thickness, width and temperature on critical current density of Nb thin film structures
M. Siegel,
A. Schilling,
H. Huebers,
2010
.
John R. Roadcap,
Mitchell H. Laird,
Edmund A. Murphy,
1997,
Optics & Photonics.
C. P. Pike,
L. Bernstein,
R. Viereck,
1992
.
R. B. Sluder,
D. Rall,
I. Kofsky,
1991
.
A. T. Stair,
C. P. Pike,
R. Viereck,
1990
.
C. P. Pike,
D. Rall,
D. Knecht,
1996
.
E. Murad,
J. Gardner,
A. Setayesh,
1992
.
M. Siegel,
H. Hübers,
A. Semenov,
2010
.
A. T. Stair,
S. Rappaport,
J. Devore,
2009
.
M. Siegel,
H. Hübers,
A. Semenov,
2012
.
M. Siegel,
H. Hübers,
A. Müller,
2011
.
M. Siegel,
U. Lemmer,
K. Ilin,
2010
.
M. Siegel,
T. Lemberger,
L. Schultz,
2012
.
M. Siegel,
A. Semenov,
K. Ilin,
2012
.
J. Gardner,
D. Rall,
I. Kofsky,
1992
.
M. Siegel,
A. Schilling,
A. Semenov,
2012
.
M. Siegel,
H. Meyer,
L. Fritzsch,
2011,
Optics express.
C. P. Pike,
E. Murad,
D. Rall,
1996
.
M. Siegel,
L. Schultz,
B. Holzapfel,
2011
.
J. Gardner,
D. Rall,
I. Kofsky,
1996
.
Mark Z. Salvador,
Whitney L. Nelson,
David L. Rall,
2010,
Defense + Commercial Sensing.