Mario H. Konijnenburg
发表
Mario H. Konijnenburg,
Erik Jan Marinissen,
Jouke Verbree,
2010,
2010 28th VLSI Test Symposium (VTS).
Mario H. Konijnenburg,
Vivek Chickermane,
Brion L. Keller,
2011,
2011 Asian Test Symposium.
Mario H. Konijnenburg,
Erik Jan Marinissen,
Chun-Chuan Chi,
2012,
J. Electron. Test..
Mario H. Konijnenburg,
Erik Jan Marinissen,
Chun-Chuan Chi,
2010,
2010 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC).
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1997,
Proceedings International Test Conference 1997.
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1993,
Proceedings of IEEE International Test Conference - (ITC).
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1999,
International Test Conference 1999. Proceedings (IEEE Cat. No.99CH37034).
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1996,
Proceedings of the Fifth Asian Test Symposium (ATS'96).
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1999,
Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 1999. Proceedings (Cat. No. PR00078).
Mario H. Konijnenburg,
Jeroen Geuzebroek,
Hans van der Linden,
1999,
International Test Conference 1999. Proceedings (IEEE Cat. No.99CH37034).
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1994,
Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium.
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1995,
Proceedings 13th IEEE VLSI Test Symposium.
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1996,
ITC.
Mario H. Konijnenburg,
Ad J. van de Goor,
J. Th. van der Linden,
1994,
Proceedings., International Test Conference.