이인학

发表

역방향 마스크 기법에 의한 고속 경로 지연고장 시뮬레이션

임인칠, 김익수, 이광훈, 1994 .

BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계 ( Testable Design for Detection of Stuck-open Faults in BiCMOS Circuits )

임인칠, 이재웅, 신재흥, 1994 .

[특집/90년대의 통신기술]'90년도 통신정책방향

이인학, 1990 .

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성

박준, 신재흥, 류형근, 1993 .

경로지연고장의 효율적인 동시성 고장시뮬레이션

임인칠, 박준, 신재흥, 1993 .

BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계

임인칠, 이재웅, 정준모, 1994 .

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )

임인칠, 이재선, 신재흥, 1993 .

임계경로 추적을 이용한 VLSI회로의 지연 테스트 생성 알고리듬 ( A Delay Test Generation Algorithm for VLSI Circuits using the Critical Path Tracing )

임인칠, 박준, 신재흥, 1993 .

1-out-of-n 코드의 CMOS 완전자체검증 검사기 설계

임인칠, 강석주, 신재흥, 1993 .

현가 장치 개선을 위한 차량 동특성 해석에 관한 연구

임원식, 이인학, 1997 .

Sub-65㎚ CMOS 공정에서 SOC(System On a Chip) 설계를 위한 통계적 SPICE Model 구현방법연구

공배선, 김영광, 김한구, 2006 .

BiCMOS를 이용한 효율적인 고속 전가산기 설계

신재흥, 김윤홍, 김장원, 1993 .

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques )

임인칠, 김익수, 정준모, 1994 .

역방향 마스크 기법에 의한 고속 경로 지연고장 시뮬레이션 ( High-Speed Path Delay Fault Simulation by a Backward Masking Technique )

임인칠, 김익수, 이재웅, 1994 .

1-out-of-n 코드의 CMOS 완전자체검증 검사기 설계 ( Design of CMOS Totally Self-Checking Checkers for 1-out-of-n Codes )

임인칠, 강석주, 신재흥, 1993 .

차량 동특성 개선을 위한 현가 장치 tunning에 관한 연구

임원식, 최천, 이인학, 1997 .

응축압이 치과용 아말감합금의 소성변형에 미치는 영향

김철위, 이인학, 1984 .

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )

임인칠, 박준, 신재흥, 1993 .

[교육세미나] 정보통신산업의 육성정책과 정보화 교육

이인학, 1990 .