W. Hügel
发表
R. Niewa,
P. Eckold,
M. Rolff,
2015
.
Pierre Eckold,
M. S. Sellers,
Rainer Niewa,
2015,
Microelectron. Reliab..
C. Wieser,
A. Leineweber,
W. Hügel,
2020
.
C. Wieser,
A. Leineweber,
A. Walnsch,
2019,
Journal of Alloys and Compounds.
Pierre Eckold,
Rainer Niewa,
Werner Hügel,
2014,
Microelectron. Reliab..
J. Freudenberger,
C. Wieser,
A. Leineweber,
2020,
Journal of Electronic Materials.
U. Welzel,
Jiangyong Wang,
M. Sobiech,
2011
.
G. Ice,
U. Welzel,
W. Liu,
2009
.
U. Welzel,
M. Sobiech,
E. Mittemeijer,
2008
.
C. Wieser,
A. Leineweber,
W. Hügel,
2020
.
Stress Relaxation Mechanisms of Sn and SnPb Coatings Electrodeposited on Cu: Avoidance of Whiskering
U. Welzel,
M. Sobiech,
J. Teufel,
2011
.
C. Wieser,
A. Leineweber,
A. Walnsch,
2019,
Journal of Electronic Materials.
R. Dinnebier,
R. Niewa,
P. Eckold,
2015
.
U. Welzel,
Jiangyong Wang,
J. Y. Wang,
2010
.