S. Shin
发表
J. S. Yoon,
G. T. Jeong,
G. H. Koh,
2019,
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
H. J. Kim,
J. J. Kim,
S. W. Pae,
2015,
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
T. Jeong,
S. Pae,
H. C. Sagong,
2018,
2018 IEEE Symposium on VLSI Technology.