N. Farchmin
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M. Eigel,
S. Heidenreich,
Philipp Trunschke,
2021,
International Journal for Uncertainty Quantification.
M. Eigel,
N. Farchmin,
2023,
ArXiv.
M. Eigel,
S. Heidenreich,
Philipp Trunschke,
2021,
SIAM J. Sci. Comput..
Gabriele Steidl,
Victor Soltwisch,
Nando Farchmin,
2021,
SSVM.
Sebastian Heidenreich,
Bernd Bodermann,
Markus Bär,
2020,
Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS.
Gitta Kutyniok,
Jan Blechschmidt,
Jan MacDonald,
2019,
ArXiv.
A. Loewe,
M. Bär,
S. Heidenreich,
2022,
Metrology.
Frank Scholze,
Victor Soltwisch,
Sebastian Heidenreich,
2020,
Advanced Lithography.
Sebastian Heidenreich,
Bernd Bodermann,
Markus Bär,
2019,
Optical Metrology.