권중석

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성

박준, 신재흥, 류형근, 1993 .

임계경로 추적을 이용한 VLSI회로의 지연 테스트 생성 알고리듬 ( A Delay Test Generation Algorithm for VLSI Circuits using the Critical Path Tracing )

임인칠, 박준, 신재흥, 1993 .

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )

임인칠, 박준, 신재흥, 1993 .