D. S. Ang
发表
Y. Gao,
D. S. Ang,
C. J. Gu,
2014,
Microelectron. Reliab..
D. S. Ang,
C. H. Liang,
S. E. Tan,
1995
.
Kin Leong Pey,
G. Bersuker,
D. S. Ang,
2009
.
D. S. Ang,
C. H. Ling,
D. Ang,
2003
.
D. S. Ang,
X. P. Wang,
D. Ang,
2016,
IEEE Electron Device Letters.
D. S. Ang,
Z. Y. Tung,
2016,
IEEE Electron Device Letters.
D. S. Ang,
C. H. Ling,
D. Ang,
1999
.
L. Larcher,
G. Bersuker,
D. S. Ang,
2010,
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium.
Scanning Tunneling Microscopy Study of the Multi-Step Deposited and Annealed HfSiO x Gate Dielectric
G. Bersuker,
D. S. Ang,
K. S. Yew,
2011
.
G. Bersuker,
D. S. Ang,
K. S. Yew,
2012,
IEEE Electron Device Letters.
Pranav Sairam Kalaga,
D. S. Ang,
D. Ang,
2018
.