Spectroscopic investigation of spin-deposited As-S amorphous films

The structure of spin-deposited As-S films and its dependence on annealing, illumination, and silver-doping are studied by optical and infrared spectroscopy. The films are prepared by spin deposition from organic solution onto substrates held at room temperature. The analysis of refractive index data indieate different bonding arrangements compared to vacuum evaporated films. Infrared transmittance spectra over the range of 4000 to 200 cm1 show new features previously unreported in the literature. The infrared data above 600 cm−1 suggest that the structure of the as deposited film is influenced by the remains of the organic solvent while the data below 600 cm−1 suggest that molecular type units are present in the freshly deposited films. Upon annealing the solvent related peaks are significantly reduced and AsS3 pyramidal units become the dominant structural elements of the amorphous network. Infrared data is also obtained for silver doped As-S films. Die Struktur von As-S-Schichten nach Spinabscheidung und ihre Abhangigkeit von Temperung, Belichtung und Silberdotierung werden mittels optischer und IR-Spektroskopie untersucht. Die Schichten werden mittels Spin-Abscheidung aus organischer Loung auf Substraten aufgebracht, die bei Zimmertemperatur gehalten werden. Die Analyse der Werte des Brechungsindex zeigen im Vergleich zu vakuumaufgebrachten Schichten unterschiedliche Bindungsanordnungen. Infrarot-Transmissionsspektren im Bereich 4000 bis 200 cm−1 zeigen neue, bisher nicht veroffentlichte Charakteristiken. Die Infrarotdten oberhalb 600 cm−1 zeigen, das die Struktur der Schichten unmittelbar nach der Abscheidung durch Reste des organischen Losungsmittels beeinflust werden, wahrend die Werte unterhalb 600 cm−1 darauf hinweisen, das Molekuleinheiten in frisch aufgebrachten Schichten vorhanden sind. Nach Temperung werden die Losungsmittel-verknupften Maxima signifikant verringert und AsS3-Pyramideneinheiten werden die dominierenden Strukturelemente des amorphen Netzwerks. Infrarotwerte werden auch fur silberdotierte As-S-Schichten aufgenommen.