내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소

최근 들어, 테스트 시간과 하드웨어의 축소를 위한 많은 내장형 자체 테스트 구조가 연구되고 있다. 대부분의 패턴 생성에 대한 내장형 자체 테스트 구조는 결정 패턴 생성을 위한 것이다. 본 논문에서는 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드를 줄일 수 있는 새로운 의사 임의 패턴 내장형 자체 테스트 기법을 제안한다. 본문에서는 의사 임의 패턴 내장형 자체 테스트 기법의 하드웨어 오버헤드의 축소 가능성에 대한 이론을 간단한 예제와 함께 설명하고 실험 결과를 통해 기존의 방법에 비하여 제안하는 방식을 이용할 경우 하드웨어 오버헤드가 줄어드는 것을 알 수 있으며, 기존의 방법과 제안한 방법의 테스트 시간 비교를 보여 준다.