文
论文分享
演练场
杂货铺
论文推荐
字
编辑器下载
登录
注册
A New Double Trench, Buried-P JTE Edge Termination for 1200 V-class SiC Devices
复制论文ID
分享
摘要
作者
参考文献
暂无分享,去
创建一个
J. Sin
|
Linhua Huang
|
Xianda Zhou
|
Hao Feng
|
Yong Liu
|
Chao Xiao
|
Xin Peng
保存到论文桶