Near field optical microscopy by local perturbation of a diffraction spot

En utilisant une pointe metallique qui vibre verticalement au dessus de la surface de l'echantillon, et perturbe periodiquement et localement la distribution du champ electromagnetique issu d'un objectif de microscope a grande ouverture numerique, nous avons observe une nette amelioration de la resolution optique, classiquement limitee par la diffraction. Le mouvement de la pointe oscillante est controle par l'interaction repulsive avec la surface de l'echantillon, le deplacement de cette pointe nous fournit un signal de force atomique. Ce microscope optique en champ proche est ainsi couple a un microscope a force atomique fonctionnant en mode «tapping». Nous decrivons precisement le principe et le montage experimental, et presentons des images NFOM et AFM d'echantillons dont les caracteristiques optiques et topographiques sont connues