论文信息 - Analiza możliwości wykorzystania metod optymalizacji lokalnej i globalnej w zadaniu charakteryzacji struktur MOS - 字舞流文

Analiza możliwości wykorzystania metod optymalizacji lokalnej i globalnej w zadaniu charakteryzacji struktur MOS

Andrzej Jakubowski | S. Szostak | L. Łukasiak | J. Arabas

[1] D. Schroder. Semiconductor Material and Device Characterization , 1990 .

[2] J. A. Shields,et al. Simplified long-channel MOSFET theory , 1983 .

[3] Zbigniew Michalewicz,et al. Genetic Algorithms + Data Structures = Evolution Programs , 1996, Springer Berlin Heidelberg.

[4] An experimental study of the effect of quantization on the effective electrical oxide thickness in MOS electron and hole accumulation layers in heavily doped Si , 2000 .