BLU backlight용 EEFL 불량검사를 위한 네트워크기반 멀티비전 통합시스템 구현

본 논문에서는 LCD backlight용으로 사용되고 있는 EEFL(External Electrode Fluorescent Lamp)의 불량 검사를 위한 네트워크기반 멀티 비전시스템에 대해 기술하였다. 개발된 검사시스템은 고속의 생산라인에 대응하기 위해 복수개의 EEFL을 동시에 검사할 수 있도록 여러 대의 비전시스템이 결합된 멀티비전시스템으로 구성되었다. 이러한 멀티비전 시스템에서는 각 시스템의 제어와 시스템간의 실시간 정보교환을 위해 효과적인 인터페이스가 필요하게 된다. 본 논문에서는 멀티비전 시스템을 위한 로컬 네트워크를 기반으로 하는 시스템 인터페이스를 구축 하였고, 이를 EEFL검사 장비에 적용하여 그 효용성을 검증하였다.