Improving 3D Measurement Speed using CUDA

Recently, a method using a fringe pattern is widely used for 3D measurements. This is a method of measuring by using a phase value obtained by projecting a pattern to an object to be measured. This method requires many operations such as calculating the phase value and calculating the height. It takes a lot of time depending on the amount of computation. In this paper, we present a method using NVIDIA’s CUDA to reduce this time. And we introduce the method of calculating phase value and height. It also shows the exact time difference between the CPU version and the CUDA version. This method is very effective because it can process the same operation in a shorter time. 키워드 Cuda, Fringe projection, Fast Speed, 3D measurement 한국정보통신학회 2017 춘계종합학술대회 332 로 CUDA에 대하여 설명한다. 기본 사항으로 본 논문에서는 Fringe Pattern으로 사인파를 사용하 였다. 그리고 측정하고자 하는 물체에 어느 한 주 기의 사인파를 뿌렸을 때 패턴의 굴절되는 정도 가 를 넘어간다면 논문[2, 3] 에 따라서 주기가 더 큰 영상을 이용하여 작은 주기의 영상을 Unwrap 해 주었다. 또 카메라 캘리브레이션은 Guo의 방법[4]을 이용하여 이미 되어 있는 상태 에서 3D 측정을 진행하였다. 2.1 위상 값 계산 본 논문에서는 사인파를 이용해 위상 값을 계 산 하는데 위상천이 양은 이고, 4-단계 위상 천이 방법을 사용하였다. 순차적인 위상 천이에 의한 4장의 사인파 그레이팅 밝기 영상은 식 (1) 과 같이 표시된다.[5]   cos  