Analysis of the radiation hardness and charge collection efficiency of thinned silicon diodes
暂无分享,去创建一个
C. Piemonte | E. Focardi | M. Bruzzi | A. Candelori | M. Boscardin | G. Dalla Betta | N. Zorzi | V. Khomenkov | S. Ronchin | C. Tosi
暂无分享,去创建一个
C. Piemonte | E. Focardi | M. Bruzzi | A. Candelori | M. Boscardin | G. Dalla Betta | N. Zorzi | V. Khomenkov | S. Ronchin | C. Tosi