X-ray diffraction in the extremely asymmetric laue case with a small angle between the crystal surface and the incident beam

X-ray diffraction phenomena are examined for an extremely asymmetric Laue case with two reciprocal lattice points on the Ewald sphere and a small angle between the crystal surface and the incident beam. The results obtained by means of a modified theory are compared with those obtained by the conventional theory and with values received for the reflection by an amorphous specimen. Es werden Interferenzphanomene von Rontgenstrahlen fur einen stark asymmetrischen Lauefall mit zwei reziproken Gitterpunkten auf der Ausbreitungskugel und einem kleinen Winkel zwischen Kristalloberflache und einfallendem Strahl untersucht. Die nach einer modifizierten Theorie gewonnenen Ergebnisse werden mit den nach der konventionellen Theorie gewonnenen und mit Werten fur die Reflexion an einem amorphen Stoff verglichen.