Analysis of Temperature-rise of the Material Surface over Hidden Defect Thermally Stimulated in Active Thermography

The paper presents the simulation results of heat transfer in a homogeneous material with an invisible defect located at some depth. The tested material is subjected to thermal excitation and defect detection is based on analysis of temperature-rise of the material surface. Temperature field can be observed by IR camera. The influence of chosen factors on the shape of temperature-rise curves is analyzed. The processed thermogram with a new thermal contrast, called filtered contrast, gives more information on the thermal nature of the arrangement of tested and defect materials than the analysis of the raw temperature-rise that is valuable for quantitative characterization of defects. Streszczenie. W artykule przedstawiono wyniki symulacji wymiany ciepla w jednorodnym materiale z defektem polozonym na pewnej glebokości. Badany material jest poddawany pobudzeniu cieplnemu, a wykrycie defektu jest oparte na analizie przyrostow w czasie temperatury powierzchni materialu, rejestrowanych np. za pomocą kamery termowizyjnej. Zbadano wplyw wybranych czynnikow na ksztalt krzywej przyrostow temperatury. Zastosowanie nowej formuly kontrastu termicznego, zwanego kontrastem filtrowanym, do analizy termogramu dostarcza dodatkowej informacji o naturze ukladu material badany material defektu w porownaniu z analizą przyrostow temperatury, co jest poządane w ocenie defektu. (Analiza przyrostow temperatury powierzchni materialu nad ukrytym defektem pobudzanym termicznie metodą aktywnej termografii).