Boundary - Scan 방식을 이용한 인쇄회로기판 테스트

Boundary-Scan 테스트 방식은 기존 테스트 방식으로 인쇄회로기판을 테스트할때 발생되는 장애요인을 해결한다. 본 논문에서는 Boundary-Scan 테스트 방식에서의 데이타 이동 경로를 테스트하여 부가된 경로에 대한 신뢰성을 보장하고 올바른 데이타를 전송 할 수 있게 한다. 또한 기판내 칩의 출력단 셀을 설계하여 신호연결선에서 발생된 단락고장으로 인하여 야기될 수 있는 인쇄회로기판 파손을 방지하고, 입력단 셀을 설계하여 신호연결선 테스트에 대한 결과 데이타를 효율적으로 분석하게 한다.