시드 병합을 통한 테스트 데이터의 압축방법
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회로가 커짐에 따라 테스트 데이터양이 증가하고, 테스트 적용시간이 길어지고 있다. 따라서 테스트 데이터양과 테스트 적용시간을 줄이기 위해서, 테스트 데이터의 압축/복원을 위한 새로운 방법을 제안하고자 한다. 제안하는 방법은 시드 벡터를 생성할 때, 압축률을 높이기 위해 무상관비트를 사용하는 XOR 트리에 기반을 두고 있다. 시드 벡터가 생성이 되면, 2비트 길이를 가진 코드를 사용하여 시드를 병합한다. 이렇게 병합된 시드는 1 클럭 시간동안에 재사용될 수가 있어, 테스트 데이터 적용시간을 크게 감소시킬 수 있다. 제안하는 방법의 효율성은 ISCAS '89 벤치 회로에 대한 실험 결과로 알 수 있다.