Identification by In Situ Raman Spectroscopy of the Films Grown during the Polarization of Nickel in Sulfuric Solutions

Methode de spectrometrie Raman in situ permettant d'identifier la croissance de films dans une solution a faible concentration et pour des films de faible epaisseur. On montre par cette methode que le film d'oxyde est responsable du phenomene de passivite et que sa composition change avec le potentiel d'electrode