Test method and system for semiconductor memory device using data strobe signal generated from internal clock signal of semiconductor memory device

반도체 메모리 장치의 내부 클럭 신호를 데이터 스트로브 신호로서 이용하는 반도체 메모리 장치의 테스트 방법 및 테스트 시스템이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 테스트 방법은, 상기 반도체 메모리 장치의 내부 신호를 이용하여, 데이터 스트로브 신호를 생성하는 단계 및 상기 데이터 스트로브 신호를 이용하여, 상기 반도체 메모리 장치를 테스트하는 단계를 구비한다. 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치의 테스트 방법 및 테스트 시스템에 의하면, 동시에 테스트할 수 있는 반도체 메모리 모듈을 증가시킴으로써, 단위 메모리 모듈당 테스트 시간을 단축할 수 있는 장점이 있다. 데이터 스트로브, 내부 클럭 신호, 테스트, 반도체 메모리 장치