文
论文分享
演练场
杂货铺
论文推荐
字
编辑器下载
登录
注册
Combined use of atomic force microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, and secondary ion mass spectrometry for cell surface analysis.
复制论文ID
分享
摘要
作者
参考文献
暂无分享,去
创建一个
J. Latgé
|
Y. Dufrêne
|
A. Delcorte
|
E. Dague
保存到论文桶