文
论文分享
演练场
杂货铺
论文推荐
字
编辑器下载
登录
注册
In Situ Deep Level Transient Spectroscopy of Defect Evolution in Silicon Following Ion Implantation at 80 K
复制论文ID
分享
摘要
作者
参考文献
暂无分享,去
创建一个
G. Rozgonyi
|
R. Zuhr
|
R. Brown
|
O. Kononchuk
|
N. Yarykin
|
C. Cho
保存到论文桶