On the structure and properties of some metal and metal oxide films
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[1] G. Hass,et al. Über eine temperaturbeständige und haltbare Trägerschicht für Elektroneninterferenzaufnahmen und übermikroskopische Untersuchungen , 1941 .
[2] G. Hass,et al. Silicon Monoxide Protected Front-Surface Mirrors* , 1949 .
[3] S. Tolansky. SPECIAL ARTICLE: New Contributions to Interferometry, with Applications to Crystal Studies , 1945 .