Correlation between defect-related electroluminescence and charge trapping in Gd-implanted SiO2 layers
暂无分享,去创建一个
I. N. Osiyuk | A. Nazarov | S. Prucnal | W. Skorupa | Jiaming Sun | I. P. Tjagulskii | R. Fedaruk | J. M. Sun
暂无分享,去创建一个
I. N. Osiyuk | A. Nazarov | S. Prucnal | W. Skorupa | Jiaming Sun | I. P. Tjagulskii | R. Fedaruk | J. M. Sun