Zum modellbasierten funktionalen Test reaktiver Systeme

Testen bezeichnet eine Menge von Aktivitaten, die dem Vergleich des Verhaltens eines Systems mit seinem intendierten Verhalten dienen. Dieses Sollverhalten kann in Form expliziter Verhaltensmodelle angegeben werden. Ablaufe validierter Modelle sind Testfalle, d.h. Sequenzen von Ein- und erwarteten Ausgaben. Da Modelle Abstraktionen sind, also Vereinfachungen, mussen abstrakte Modellablaufe in konkrete Soll-Ablaufe der Implementierung konvertiert werden. Diese werden dann mit tatsachlichen Ablaufen verglichen. Komplexitat wird also auf Modell und die die Ubersetzung vornehmende Treiberkomponente aufgeteilt. In technologischer Hinsicht werden Verfahren zur Testfallgenerierung mit symbolischer Ausfuhrung prasentiert. Insbesondere fur deterministische Systeme kann Testfallgenerierung als Suchproblem im Zustandsraum des Modells aufgefast werden. Dem Problem der Zustandsraumexplosion wird mit Strategien zur Speicherung von Zustandsmengen und gerichteter Suche begegnet. Fur strukturelle Uberdeckungsmase werden Verfahren zur inkrementellen Generierung von Integrationstestsuiten prasentiert. Essentiell ist dabei die Ermittlung von Selektionskriterien auf der Menge der Modellablaufe, sog. Testfallspezifikationen, aus denen ein Testfallgenerator Testfalle berechnen kann. Fur funktionale Testfallspezifikationen in Form von Interaktionsmustern bedeutet Testfallgenerierung, das fehlende Signale eingefugt werden. Fur universelle Eigenschaften, wie etwa Invarianten, wird eine Methodik fur die Ableitung von Testfallspezifikationen skizziert, die auf der syntaktischen Transformation temporallogischer Formeln basiert. Das Resultat dieser Transformation kann dann zur automatischen Generierung von Testfallen verwendet werden. In methodischer Hinsicht werden weiterhin verschiedene Szenarien des modellbasierten Testens insbesondere im Zusammenhang mit automatischer Codegenerierung und der Rolle von Modellen als Spezifikationen prasentiert. Die Verzahnung inkrementeller Modellentwicklung mit inkrementeller Testfallentwicklung wird diskutiert. Industrielle Fallstudien aus dem Bereich der Chipkarten demonstrieren die Tragfahigkeit der vorgestellten Konzepte und Ansatze.