A Supply Current Test Method for Bridging Faults in CMOS Microprocessor Based Circuits

CMOSマイクロプロセッサを用いてプリント配線板上に実現したマイクロコンピュータに発生するブリッジ故障を検査プログラム実行時の電源電流測定により検出する検査法を, 本論文では提案している。その検査法を商用のボイラ制御用マイクロコンピュータ回路の検査に適用し, 使用ICの隣合う2本のピン間の単一ブリッジ故障の98.7%を検査時間326msecで検出できることを実験で明らかにしている。また, 本検査法での検査時に実行させる検査プログラムの開発支援ツールがマイクロプロセッサのデータシート内で公開されているタイミングチャートを利用して開発できることも明らかにしている。

[1]  Najmi T. Jarwala,et al.  A Framework for Boundary-Scan Based System Test and Diagnosis , 1992, Proceedings International Test Conference 1992.

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[4]  Masaki Hashizume,et al.  Supply Current Measurement Circuit for Bridging Fault Detection in Microprocessor Based Circuit , 1997 .

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[6]  Wu-Tung Cheng,et al.  Diagnosis for wiring interconnects , 1990, Proceedings. International Test Conference 1990.

[7]  Masaki Hashizume,et al.  A Practical Functional Test Using Flowchart for Production Testing of Microprocessor Based Sequence Controllers (Special Issue on VLSI Testing and Testable Design) , 1993 .

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