论文信息 - Role of the GaN-on-Si Epi-Stack on ΔRON Caused by Back-Gating Stress - 字舞流文

Role of the GaN-on-Si Epi-Stack on ΔRON Caused by Back-Gating Stress

S. Decoutere | C. Fiegna | N. Posthuma | M. Borga | M. Millesimo | A. Vohra | G. S. M. I. B. B. L. Valentini | S. M. I. A. N. Tallarico | L. Millesimo | C. Valentini | N. FiegnaA. | Tallarico