文
论文分享
演练场
杂货铺
论文推荐
字
编辑器下载
登录
注册
Backside medium energy ion scattering study of the lanthanum diffusion in advanced gate stacks for the 32nm node
复制论文ID
分享
摘要
作者
参考文献
暂无分享,去
创建一个
F. Bertin
|
J. Barnes
|
D. Jalabert
|
F. Pierre
|
M. Py
|
R. Boujamaa
保存到论文桶