Modelling of systematic errors in dual-frequency EIT

Quand une image statique est formee a partir de mesures realisees a deux frequences en tomographie d'impedance electrique (TIE), les variations de conductivite dans les tissus doivent etre imagees en tenant compte d'un ensemble d'erreurs instrumentales qui ne peuvent pas etre reduites par un moyennage temporel. Il est connu qu'une cause majeure de ces erreurs reside dans la presence de capacites parasites dans l'interface d'entree. Un modele analogique simple a ete utilise pour comparer deux types d'interface d'entree: premierement, une simple source de courant et un voltmetre multiplexe et deuxiemement, des sources et des voltmetres distribues. Nous avons trouve que l'amplitude des erreurs etait fortement dependante de l'impedance de transfert du circuit