Characterization of magnetic fields

Verfahren zum Charakterisieren von Magnetfeldern, die von Objekten oder Bauelementen ausgehen, wobei ein Rasterkraftmikroskop verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der Oberflache des Objekts oder Bauelements und der Spitze des Rasterkraftmikroskops eine Schicht angeordnet wird, welche ihre mechanischen Eigenschaften in Abhangigkeit von ihrer Magnetisierung oder in Abhangigkeit von einem externen angelegten Magnetfeld andert.