공정변화에 따른 LDO 레귤레이터의 특성 분석

본 논문에서는 LDO 레귤레이터의 공정변화에 따른 특성변화를 1 ㎛ 20 V 고 전압 CMOS 공정을 사용하여 시뮬레이션 하였다. 공정변화에 따른 3종류의 SPICE 파라미터(문턱전압과 실효채널길이가 평균적인 Typ(typical), 평균 이하인 FF(fast), 평균 이상인 SS(slow) 파라미터)를 LDO 레귤레이터 시뮬레이션에 활용하였다. 시뮬레이션 결과,SS 파라미터 사용의 경우, 라인레귤레이션이 3.6 ㎷/V, 부하 레귤레이션이 0.4 ㎷/㎃, 부하전류 변화에 따른 출력전압이 안정화되는 시간이 평균 0.86 ㎲였다. 그리고 Typ 파라미터 사용의 경우, 라인 레귤레이션이 4.2 ㎷/V, 부하 레귤레이션이 0.44 ㎷/㎃, 부하전류 변화에 따른 출력전압이 안정화되는 시간이 평균 0.62 ㎲였다. 마지막으로 FF 파라미터 사용의경우 라인 레귤레이션이 7.0 ㎷/V, 부하 레귤레이션이 0.56 ㎷/㎃, 부하전류 변화에 따른 출력전압이 안정화되는 시간이 평균 0.27 ㎲였다. 향후, 이러한 공정변화에 따른 회로 특성의 변화를 고려한 효율적 회로설계가 필요할 것으로 사료된다.