경로 활성화 방법을 이용한 고장 시뮬레이션

본 논문에서는 기존의 경로 활성화 방법을 개선하고 이를 이용하여 조합 논리 회로의 stuck-at 고장을 효율적으로 검출할 수 있는 고장 시뮬레이션 방법을 제안한다. 기존의 조합 회로 고장 시뮬레이션 방법은 하나의 테스트 패턴에 대해서 일어날 수 있는 모든 고장을 인가하여 주 출력(Primary Output)까지 전파시켜 시뮬레이션 한다. 그러나 주 출력까지 전달되지 않는 고장에 대해서도 불필요한 시뮬레이션을 해야 하며 이로 인해서 시뮬레이션 시간과 메모리의 낭비를 가져오게 된다. 따라서, 본 논문에서는 회로에 인가하는 하나의 테스트 패턴에 대해 그 테스트 패턴이 검출할 수 있는 고장만을 시뮬레이션 하는 고장 시뮬레이션 방법을 제안하고 또한, fanout이 일어나는 신호선부터 고장 시뮬레이션을 수행함으로써 경로 활성화 방법이 갖고 있는 fanout 신호선의 stuck-at 고장을 효율적으로 검출하게 함으로써 시뮬레이션의 속도를 개선시킨다.