Radant Lens용 45° 위상 변위 레이어의 등가회로 연구

본 논문에서는 X-대역 Radant lens 4-bit 위상 변위기 설계에 필요한 11.25°, 22.5°, 45° 위상 변위 레이어(layer)중에서 45° 레이어의 등가회로에 관하여 기술한다. 45° 위상 변위 레이어에 대한 CST사의 MWS(Microwave Studio)와 Agilent사의 ADS(Advanced Design System) 시뮬레이션을 비교 분석하여 등가회로를 추출하고, 등가회로를 통해 얻을 수 있는 이론치와 측정치를 비교한다. 또한, 추출된 등가회로를 활용하여, 4-bit Radant lens의 위상 bit 시뮬레이션 결과도 제시한다.