Intercomparison of Permittivity Measurement Techniques for Ferroelectric Thin Layers
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V. Laur | A. Chevalier | P. Quéffélec | D. Cros | T. Lacrevaz | C. Bermond | B. Fléchet | D. Passerieux | V. Madrangeas | S. Députier | M. Guilloux-Viry | G. Houzet | J. L. Floch | A. L. Febvrier