Kalibrationsfreie Temperaturmessung auf Basis von bipolaren Transistoren, neue Perspektiven für die Messtechnik (Calibration-Free Temperature Measurement Based on Bipolar Transistors, New Perspectives for Measurement Technology)

Entwickelt wurde ein aus messtechnischer Sicht neuartiges, kalibrationsfreies Temperaturmessverfahren, basierend auf einer modellgestützten Auswertung der Strom-Spannungs-Kennlinie eines pn-Überganges. Verschiedene Modelle wurden dafür aufgestellt und experimentell ausgewertet. Mit geeigneten Modellen konnte die Messunsicherheit von 2–3 K verbessert werden. Damit ist die wichtigste Voraussetzung für einen breiten, praktischen Einsatz der kalibrationsfreien Temperaturmessung auf Basis von pn-Übergängen erfüllt worden. Das neuentwickelte Messverfahren kann wegweisend für weitere Fortschritte in der Messtechnik sein. Durch die Erweiterung der Möglichkeiten einer kalibrationsfreien Messung oder eine neue Betrachtung bekannter Messverfahren als „Inverses Identifikationsproblem” werden neue Entwicklungen in der Messtechnik hervorgerufen.