Eine Mehrwellenlängenmethode zur röntgenographischen Analyse oberflächennaher Eigenspannungszustände in Keramiken Herrn Prof Dr rer. nat. Hans Neff Zur Vollendung seines 70. Lebensjahres gewidmet

Wegen der Sprodigkeit Keramischer Bauteile kommt deren oberflachennahen Werkstoffzustanden fur das Festigkeitsverhalten eine besondere Bedeutung zu Neben der Oberflachentopographie und den vorliegenden Gefugezustanden sind dabei insbesondere die auftretenden Eigenpannungen wichtig Fur die Analyse oberflachennaher Eigenspannungen in Keramiken hat sich inzwischen die rontgenographische Methode als das Verfahren der Wahl erwiesen [1] Haufig sind die eigenspannungsbehafteten Randschichten aber sehr dunn, so das trotz der geringen Eindringtiefe der fur die Messungen verwendeten Rontgenstrahlen nur integrale Aussagen uber die wirklich im Oberflachenbereich vorliegenden Eigenspannungsverlaufe moglich sind Dies erschwert die Bewertung der Auswirkungen, die bestimmte Parametervariationen beider Keramikherstellung auf die Eigenspannungsausbildung haben Es wird uber eine Methode berichtet, bei der mit Rontgenstrahlen unterschiedlicher Wellenlangen verschiedene Gitterebenen {hkl} in den Kornern oberflachennaher Werkstoffbereiche vermessen und steile Eigenspannungsgradienten qualitativ erfast werden konnen Beispiele entsprechender Eigenspannungsanalysen an hartbearbeiteten Keramikoberflachen werden vorgestellt und diskutiert. A Multi-Wavelength Method for X-RAy Analysis of Near Surface Residual States in Ceramics Because of the brittleness of ceramics, their near surface materials state is of particular importance with respect to their strength. Besides of surface topography and microstructure, also the residual stress state has to be taken into account. X-ray stress analysis has proved to be the most reliable procedure for the determination of near surface residual stress states in ceramics. Often, however, the residually stressed surface layers are very shallow and, despite the small penetration depth of the X-rays used, only integral values of the existing residual stresses can be measured Consequently, it is difficult to asses the Parameters of the applied Pretreatments which influence the residual stress states. A method is described which works with different X-ray wavelengths for measuring lattice strains of several sets of {hkl}-planes of near surface grains to account for very steep stress gradients Corresponding examples of residual stress determinations on machined ceramic surfaces are presented and discussed.