SSD를 위한 SMART 기반 신뢰성 분석 방법론

최근, 셀당 여러 비트를 저장하는 MLC 기술과 단위 면적당 저장 밀도를 향상시키는 기술의 적용으로 플래시 메모리의 용량은 크게 증가하고 있다. 하지만 이러한 기술들은 셀간 간섭을 증가시켜 읽기/쓰기 교란을 야기하며 프로그램/삭제 연산 횟수 제한과 데이터 유지 문제를 악화시켜, 플래시 메모리 기반 저장 장치의 신뢰성에 대한 걱정을 증가시키고 있다. 이러한 걱정을 완화할 수 있는 출발점으로 본 논문에서는 SSD의 신뢰성 이슈를 체계적이고 정량적으로 조사할 수 있는 방법론과 도구를 제안한다.. 이것은 SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology) 기술을 이용하여 SSD에서 블록들의 평균 삭제 횟수, I/O 응답 시간, 배드 블록 개수 등의 다양한 속성 정보를 여러 워크로드 상황에서 측정할 수 있다. 또한 측정된 결과를 분석하여 SSD의 평균 수명, 순차/임의 워크로드가 내구성에 끼치는 영향, 배드 블록의 발생이 성능에 끼치는 영향 등의 정보를 제공할 수 있다. 실제 6개의 SSD를 이용한 실험을 통해, 제안된 방법론 및 도구가 SSD의 내부 구조를 적절하게 분석하고 있으며, SSD의 신뢰성을 평가, 향상 시킬 수 있는 유용한 정보를 제공할 수 있음을 보였다.