文
论文分享
演练场
杂货铺
论文推荐
字
编辑器下载
登录
注册
Simulation of self-heating effects in 30nm gate length FinFET
复制论文ID
分享
摘要
作者
参考文献
暂无分享,去
创建一个
C. Fiegna
|
E. Sangiorgi
|
G. Curatola
|
M. Braccioli
|
Y. Yang
保存到论文桶