Correlation and Multivariate Dependencies in the X‐ray Characterization of Cr, Al‐ZSM‐5 Type Zeolites

For an earlier described zeolite synthesis (Kosslick et al.) X-ray diffraction measurements were done. The relations between the intensities of X-ray peaks and background to other characterizing parameters were analyzed using statistical methods. it was found that the X-ray data are a “fingerprint” of the synthesized zeolites, because the crystallinity and structure influences many other properties of the samples. Therefore, the used X-ray data allow a comprehensive characterization of the synthesis products. Fur eine bereits beschriebene Zeolith-Synthese (Kosslick et al.) wurden Rontgenbrechungs-Messungen durchgefuhrt. Mit statistischen Methoden wurden die Zusammenhange zwischen den Intensitaten und dem Untergrund der Rontgenpeaks und den anderen Charakterisierungsdaten des Syntheseprodukts untersucht. Es wurde festgestellt, das diese Rontgendaten wie ein „Fingerabdruck” den synthesisierten Zeolithen charakterisieren, da ursachlich Kristallinitat und Struktur viele Eigen-schaften des Syntheseprodukts beeinflussen. Die verwendeten Rontgendaten erlauben eine umfassende Charakterisierung des Syntheseprodukts.