Semiconductor memory device, memory system comprising the same, test method thereof

본 발명은 반도체 메모리 장치, 이 장치를 구비하는 메모리 시스템, 및 이 시스템의 테스트 방법을 공개한다. 이 장치는 외부로부터 인가되는 명령 신호들을 디코딩하여 복수개의 명령들 및 모드 설정 명령을 발생하는 명령어 디코더, 모드 설정 명령에 응답하여 외부로부터 인가되는 모드 설정 코드를 입력하여 명령 테스트 인에이블 신호의 상태를 설정하는 모드 설정부, 명령 테스트 인에이블 신호의 상태가 인에이블 상태이면 선택신호를 활성화하는 선택신호 발생기, 및 선택신호가 활성화되면 내부 명령 신호들을 입력하여 외부로 출력하는 선택기로 구성되어 있다.